Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀

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Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品介紹：

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品優勢：

自動化薄膜厚度繪圖系統，快速定位、實時獲得結果；
可測樣品膜層：基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量；
測繪結果可用2D或3D呈現，方便用戶從不同的角度檢視；

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量原理：

當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀常見工業應用：

半導體膜層	顯示技術	消費電子	派瑞林
光刻膠	OLED	防水涂層	電子產品/電路板
介電層	ITO和TCOs	射頻識別	磁性材料
砷化鎵	空氣盒厚	太陽能電池	醫學器械
微機電系統	PVD和CVD	鋁制外殼陽極膜	硅橡膠

Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品參數：

波長范圍：	190nm-1340nm	光源：	鎢鹵素燈、氘燈
厚度測量范圍：	5nm-2mm	測量精度：	0.02nm
光斑大小：	標準1.5毫米	樣品臺尺寸：	1-300mm
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